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爱乐宝申请用于测量磁置的方法专利非微分及微分计算磁置变化以获得校正的位置变化

发布时间:2025-08-06 15:15:19  点击量:
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爱乐宝申请用于测量磁置的方法专利非微分及微分计算磁置变化以获得校正的位置变化

  金融界2024年12月26日消息,国家知识产权局信息显示,爱乐宝两合公司申请一项名为“用于测量磁置的方法”的专利,公开号 CN 119178373 A,申请日期为2024年6月。

  专利摘要显示,一种用于磁体‑传感器装置的信号处理的方法,该磁体‑传感器装置(1)包括至少一个传感器对(3)和一个相对于所述传感器对可动式支承的磁体 (2),此方法具有以下步骤:测量各个传感器各个空间坐标的磁通密度;针对各个所测得的磁通密度,非微分计算磁体的位置变化;针对各个空间坐标,算出所测得的磁通密度的差;由计算的磁通密度,微分计算磁体的位置变化;基于磁体的零位,归一化磁体的非微分及微分计算的位置变化;算出磁体的微分计算的位置变化与磁体的非微分计算的位置变化的差;根据算出的差,计算加权因子;算出归一化的磁体的非微分及微分计算的位置变化的平均值,该平均值是经过加权因子加权处理的,以获得校正的位置变化。

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